技术参数与实验条件
- 核心作用
- 同步辐射 X 射线透射表征用小型高低温原位池，采用半导 体热电片实现 -20 °C ~ 60 °C 加热/制冷，适合电池等温度敏感样品
- 光路 / 探测
- 前后双窗透射 X 射线，常用 Kapton 或铍窗，用于XAFS / XRD / 成像
- 温控方式
- 半导体热电片（TEC/Peltier），一面贴样品台、一面接水 冷头/散热器；PT100 或热电偶 PID 闭环控温
- 流体
- 可设计为静态液池或流动液池；可选气氛置换，防止冷凝 ，水冷
- 密封 / 结构
- 扁平长方形腔体，O 形圈或硅胶垫密封；外壳可加干燥气帘防止低温结露
- 样品承载
- 样品固定于铜/铝温控块中心，液层厚度由垫片控制（常见 0.5–2 mm）
材料、窗口、温控和接口按具体实验条件选配，实际配置以技术协议为准。
主要配置与材料
| 部件 | 数量 | 材质 / 规格 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 上盖板 | 1 | 316L / 铝合金 / PEEK | 压紧窗口与样品腔 |
| 下底座 | 1 | 316L / 铝合金 / PEEK | 支撑样品台与温控模块 |
| 前/后透射窗 | 2 | Kapton / 云母 | X 射线进出、低吸收 |
| O 形密封圈 | 2 | FKM / 硅胶 | 窗片与腔体密封 |
| 样品台 / 温控块 | 1 | 铜 / 铝 | 导热并承载样品 |
资料依据：原位池产品册 V7，第16页。所列为可选配置，供货组成以确认的技术协议为准。
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安装与实验配套
按本型号的窗口、材料、温度与压力条件配置实验环境，并与主机的探测几何及样品空间核对。
请在选型时提供主机型号、样品形态和反应条件，以确认接口、温控、气液路及外接设备需求。
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