产品册明确列出的轻元素 K 边示例。
SOFT X-RAY ABSORPTION
SoftXAS H2000
软X射线吸收精细结构谱仪
以实验室 NEXAFS 表征轻元素 K 边与部分过渡金属 L 边，研究电子结构、价态与配位环境。
- 标准能量范围
- 200–1200 eV
- 能量分辨能力
- E/ΔE = 1500
ELEMENTS & EDGES
从轻元素，观察轨道与电子结构
产品册明确列出的过渡金属 L 边示例，具体吸收边与配置需确认。
SoftXAS H2000 不适用公司硬 XAFS 测试申请表。目前暂无已发表论文及应用案例，具体配置与样品适用性请联系技术团队咨询。
咨询产品配置 →NEXAFS APPLICATIONS
面向反应过程的电子结构研究
面向轻元素与 3d 过渡金属 NEXAFS 分析，结合薄膜、气体、液体等样品装载配置，开展催化、电池及环境过程研究。
右侧展示产品册中的代表性 NEXAFS 谱图。