图册明确列出的轻元素 K 边示例。
TECHNICAL SPECIFICATIONS
光源、分辨能力与测试配置
- 光源
- 无碎片激光驱动 XUV 光源
- 标准能量范围
- 200–1200 eV
- 定制能量范围
- 100–200 eV（可定制）
- 重复频率
- 25 Hz
- 光源功率稳定性
- ±1.5%
- 光谱仪
- 像差校正平场光谱仪
- 能量分辨能力
- E/ΔE = 1500
- 样品安装
- 多样品载台
- 设备占地
- 1.5 m × 1.0 m
- 软件
- 集成系统控制、光谱校准和分析功能
图册标示可分析低至 0.2 wt% 的样品，具体适用性与性能需结合样品和测试条件评估。
ELEMENTS & EDGES
从轻元素，观察轨道与电子结构
图册明确列出的过渡金属 L 边示例，具体吸收边与配置需确认。
proXAS 不适用公司硬 XAFS 测试申请表。目前暂无已发表论文及应用案例，具体配置与样品适用性请联系技术团队咨询。
咨询产品配置 →NEXAFS APPLICATIONS
面向反应过程的电子结构研究
面向轻元素与 3d 过渡金属 NEXAFS 分析，结合薄膜、气体、液体等样品装载配置，开展催化、电池及环境过程研究。
右侧展示产品册中的代表性 NEXAFS 谱图。
LABORATORY PLANNING
场地与安装准备
- 设备占地
- 1.5 m × 1.0 m
- 场地规划
- 占地尺寸不等于完整安装空间，需另行预留操作、检修与辅助系统位置。
- 配套条件
- 电源、冷却、真空、搬运通道、承重与环境条件，由技术团队按配置提供专属清单。