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X射线发射光谱仪(XEScope)

XEScope是一款专业的化学态和电子轨道分析利器,专注于材料近表面中元素的价态和轨道结构解析。凭借超高灵敏度与智能化的操作流程,它将成为能源材料、催化科学、环境化学等领域研究者值得信赖的表征工具。

    产品概述

    XEScope是一款专业的化学态和电子轨道分析利器,专注于材料表面中元素的价态和轨道结构解析。凭借超高灵敏度与智能化的操作流程,它成为能源材料、催化科学、环境化学等领域研究者值得信赖的表征工具。 


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    Na2S2O3的S Kα光谱中反应了S元素是由-2价和+6价以1:1的比例存在,直观体现精准的价态分辨能力

    核心优势

    1. 超高灵敏度可检测低至0.1 wt%的成分,适用于痕量元素分析

    2. 元素范围广:可以实现Al~U元素的超广元素分析能力;

    3. 化学态分辨能力:精准区分同一元素的不同价态,如Si²⁺/Si⁴⁺

    4. 物种比例定量分析:可建立自研体系数据库,进行物种比例定量拟合;

    5. 支持原位测试无需XPS的超高真空,可以在一个大气压下进行真正的原位测试实时监测材料在反应过程中的化学态变化


    技术原理

     

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    技术特点


    1.宽能量覆盖:1.2 keV–9 keV能量范围,满足从Al~U的广泛元素分析

    2.一键式操作流程:从测试设置到数据解析,简化操作步骤,降低使用门槛

    3.批量处理:支持多组样品批量检测与标准化报告输出

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    测试数据

    1.化学位移判定价态

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    2.低含量测试

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    3.价态占比分析

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    典型应用场景

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    适用样品类型

    无需复杂前处理,直接上机测试

    l固体(块、片)

    l液体(溶液、乳液)

    l粉末

    l微量样品(≥5 mg

    l低含量样品(≥0.1 wt%