X射线发射光谱仪(XEScope)
XEScope是一款专业的化学态和电子轨道分析利器,专注于材料近表面中元素的价态和轨道结构解析。凭借超高灵敏度与智能化的操作流程,它将成为能源材料、催化科学、环境化学等领域研究者值得信赖的表征工具。
产品概述
XEScope是一款专业的化学态和电子轨道分析利器,专注于材料近表面中元素的价态和轨道结构解析。凭借超高灵敏度与智能化的操作流程,它将成为能源材料、催化科学、环境化学等领域研究者值得信赖的表征工具。
Na2S2O3的S Kα光谱中反应了S元素是由-2价和+6价以1:1的比例存在,直观体现精准的价态分辨能力
核心优势
1. 超高灵敏度:可检测低至0.1 wt%的成分,适用于痕量元素分析;
2. 元素范围广:可以实现Al~U元素的超广元素分析能力;
3. 化学价态分辨能力:精准区分同一元素的不同价态,如Si²⁺/Si⁴⁺;
4. 物种比例定量分析:可建立自研体系数据库,进行物种比例定量拟合;
5. 支持原位测试:无需XPS的超高真空,可以在一个大气压下进行真正的原位测试,实时监测材料在反应过程中的化学态变化。
技术原理
技术特点
1.宽能量覆盖:1.2 keV–9 keV能量范围,满足从Al~U的广泛元素分析;
2.一键式操作流程:从测试设置到数据解析,简化操作步骤,降低使用门槛;
3.批量处理:支持多组样品批量检测与标准化报告输出。
测试数据
1.化学位移判定价态
2.低含量测试

3.价态占比分析
典型应用场景
适用样品类型
无需复杂前处理,直接上机测试
l固体(块、片)
l液体(溶液、乳液)
l粉末
l微量样品(≥5 mg)
l低含量样品(≥0.1 wt%)








